| 加工定制否 | 品牌Fischer |
| 型号XULM/XDL-B | 类型多元素分析仪器 |
| 测试范围元素17-92 | 测量时间自己调整 |
| 测量精度误差不大 | 电源电压220VHZ |
| 适用范围金属元素 |
fischerscope? x射线测试仪有全系列的x-射线供
应。
所有的设备遵循astm b568, din 50 987和 iso 3497
等国家和国际标准。 helmut fischer制造用于镀层厚
度测量和材料分析的x射线荧光系统有超过17年的经验
。通过对所有相关过程包括x射线荧光测量法的精确处
理和使用了***新的软件和硬件技术,fischer公司的x
射线仪器具有其独特的特点。
的winftm?(版本3(v.3)或版本6(v.6))
软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准
并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统,
同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用
winftm? v.6软件)
典型的应用范围如下:
单一镀层:zn, ni,cr,cu,ag,au,sn等。
二元合金层:例如fe上的snpb,znni和nip合金。
三元合金层:例如ni上的aucdcu合金。
双镀层:例如au/ni/cu,cr/ni/cu,au/ag/ni,
sn/cu/brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如
cr/nicu/plastic;fe。
***多24种镀层(使用winftm? v.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用v.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。x射线测试仪
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