加工定制否	品牌德国Fischer
型号XULM/XDL-B	类型多元素分析仪器
测试范围元素17到92	测量时间自己调整
测量精度误差不大	电源电压220VHZ
适用范围元素17到92

dal,xdvm菲希尔（fischer）膜厚仪,xrf镀层厚度分析仪配创新的x射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换，采用激光自动对焦，并配备有z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（pcb）及电子元器件等 符合标准din iso 3497 和 astm b 568。高分辨硅-pin-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。 二元合金层：例如fe上的snpb，znni和nip合金。 三元合金层：例如ni上的aucdcu合金。 双镀层：例如au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。 双镀层，其中一个镀层为合金层：例如cr/nicu/plastic；fe。 菲希尔xul（m）膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们锦霖公司始终的目标.              
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