索恩达三维数字光栅控制器sgo-500
　　为精准而设计
　　“高速三维数字光栅控制器”凭借pdg自动光栅控制技术、pmp轮廓测试技术为锡膏印刷、微电子元器件提供高精度的三维和二维测量。内部结构模块化设计，实现了高集成，简单化，有利于各种应用及设备维护。
 
功能特点
pdg可编程全光谱结构光栅
　　可编程光栅(pdg)技术形成全光谱结构光栅，实现了对结构光栅的软件调制及控制，提高了设备的检测能力和适用范围。
pmp调制轮廓测量技术
　　运用先进的相位轮廓调制测量技术(pmp)，8比特的灰阶分辨率，达到0.37微米的检测分辨率。对焊膏印刷进行高精度的三维和二维测量。
 
　　3维及2维测量
　　自动检测所有需要检测的物体的体积，面积、高度、xy位置形状不良等工艺缺陷。
克服反射率的差异
　　同步漫反射技术（dl）完全解决焊膏的结构阴影和亮点干扰。
高精度工业数字相机
　　配合500万像素的高精度工业数字相机，确保了世界最快的检测速度。
超强的稳定性
　　控制器由可编程控制器、数字光栅、影像系统组成。
应用于spi焊膏检测
　　spi 解决焊膏缺陷，包括体积、面积、高度、xy偏移、形状，漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良。
 
应用于焊膏印刷
　　印刷机与sgo-500三维数字光栅控制器(pdg)组合，快速提升3大优势：
　　降低成本
　　产品合并后价格直接下调25%。
　　提高产品检测自控能力
　　形成真正的闭环控制，通过印刷后100%检测结果，自动对印刷机优化和调整。
　　自行组合，误判、识别错误
　　快速模块化组合，根据客户来做检测装置选配及持续升级。
 
应用于aoi自动光学检测
　　3d aoi 创新技术解决了现有 2d aoi 无法解决的瓶颈。 利用3维测量核心技术，不受密脚距、透明度、颜色、阴影等周围环境及元器件特性的影响，在原有的2d-aoi基础上快速提升检测能力。
 
索恩达三维数字光栅控制器sgo-500领先的技术参数
测量原理 measurement principle 3d 白光 pmp pdg（可编程数字光栅）
测量项目 measurements 体积、面积、高度、xy偏移、形状,轮廓
检测不良　　类型
detection of non- 
　　performing types
漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良
相机 camera 500万像素
fov尺寸 fov size 48×34mm
精度 accuracy 高精度：±1μm
分辨率 resolution xy方向：10μmz轴：0.37um
pdg控制器 45度可变光栅 单投影
重复精度 repeatability 体积：小于1%（4 sigma)高度：小于1μm(4 sigma),面积：小于1%（5 sigma)
gage r＆r gage r＆r ＜＜10%（6 sigma）
检测速度 detection speed 高精度模式：小于0.5秒/fov
mark点检测时间 mark-point detection time 0.5秒/个
测量高度 maximum measuring height 700μm(2000) μm
弯曲pcb测量高度 maximum measuring 
　　height of pcb warp
±5mm
最小焊盘间距 minimum pad spacing 100μm
最小测量大小 smallest sizemeasurement 长方形：150μm(5.9 mils), 圆形：200μm(7.87 mils)
工程统计数据 engineering statistics histogram, xbar-r chart, xbar-s chart,cp & cpk, % 
　　gage repeatability data,spi daily/weekly/monthly
　　reports
读取检测位置 read position detection 支持gerber format(274x, 274d)格式，人工teach模式
操作系统支持 operating system support windows®xp professional ＆windows®7 professional
电源 power 200-240vac,50/60hz单相
光栅数字控制器选索恩达，专业生产厂商

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深圳市索恩达电子有限公司