西安谊邦电子引进美国的先进半导体测试技术，在此基础上研制生产了高端分立器件测试仪yb6500，高端分立器件测试仪yb6500功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子yb系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。高端分立器件测试仪yb6500可测试参数 漏电参数： ir、  icbo、 lceo/s/x、idss/x、 idoff、idrm、 irrm、icoff、idgo、ices、 igesf、igesr、iebo、 igssf、lgssr、igss、igko、 ir(opto) 击穿参数： bvceo   bvces(300μs pulseabove 10ma) bvdss、 vd、  bvcbo、、 vdrm、 vrrm、 vbb bvr 、 vd+、vd-、bvdgo、bvz bvebo、 bvgss、 bvgko 增益参数： hfe、ctr、gfs、vgsth、vgeth导通参数:  vcesat、vbesat、vbeon、 vf、vt、vt+、vt-、von、vdson、vdon、vgson、vf(opto-diode)vgsth、vgeth、vtm、vsd、idon、vsat、idss、idon、 notch =igt1，igt4、icon、vgeon、 vo(regulator)、iin(regulator) 关断参数: vgsoff 触发参数:  igt、vgt 保持参数:  ih、ih+、ih- 锁定参数： il、il+、il-混合参数:  rdson、gfs、input regulation、output regulation间接参数:  il 网址： 高端分立器件测试仪yb6500测试举例： mosfet hy1808测试程序及测试结果

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