技术参数 梅特勒 xp系列分析天平技术参数
xp分析天平型号 最大称量值
[g] 可读性
[mg] 重复性
（sd）[mg]
线性误差
[mg] 典型稳定时间
[s] 秤盘尺寸
（w×d）[mm]
xp105dr 31/120 0.01/0.1 0.0015/0.06 0.15 1.5 78×73
xp205 220 0.01 0.03 0.1 2.5 78×73
xp205dr 81/220 0.01/0.1 0.0015/0.06 0.15 1.5 78×73
xp204 220 0.1 0.007 0.2 1.5 78×73
xp504 520 0.1 0.12 0.4 1.5 78×73
xp504dr 101/520 0.1/1 0.1/0.6 0.5 1.5 78×73
dr=变量程；sd=标准偏差
性能特点 
梅特勒xp系列分析天平主要特点：采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●xp系列分析天平
●xp系列分析天平天平校验功能（balancecheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
●gwpexcellencetm一体化安全功能，确保xp系列分析天平始终正确工作
●优化xp系列分析天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●xp系列分析天平完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●xp系列分析天平丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
水平控制系统（levelcontrol）：xp系列分析天平在使用过程中或移动后偏离水平位置影响到称量结果的准确性时，水平控制系统会发出声音警告，并显示调整信息，准确地指导您调节分析天平恢复至水平位置。
红外感应器（smartsens）：实现无需用手接触的分析天平操作：开关门、去皮、回零、打印。即使称量毒性或腐蚀性样品，您也一样安全无忧！
专业级全自动校准技术（profact）：xp系列分析天平实现温度漂移和用户时间设置触发的全自动内置砝码校正和线性校正。

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