- 加工定制：
- 类型：变压器参数测试仪
- 品牌：
- 型号：
- 测量范围：
- 精确度：
- 仪表尺寸：
- 适用范围：
- 仪表重量：
- 工作电源：
- 规格：
半自动太阳能电池组件el缺陷测试仪技术参数：
型号规格
el140s/d-m
el600s/d-m
el830s/d-m
有效测试面积
1200mm x2100mm
分辨率
1360×1024（单）
3032*2016（单）
3358*2536（单）
2720*1024（双）
6656*2030（双）
6716*2536（双）
测试组件类型
单晶、多晶组件
相机类型
冷却型ccd
冷却到达温度
致冷至室温下 20 °c
可编程电源输出电压
0~80v
可编程电源输出电流
0~9.5a
电源参数
单相220v 10a 最大加载电压80v，最大加载电流 10a
曝光时间
0—60秒可调
压缩空气
0.8mp
整机工作功率
1kw
可检测缺陷类似
检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象
半自动太阳能电池组件el缺陷测试仪产品特点
优秀的成像质量：140万、600万、830万成像质量优良，无噪点。相机带有半导体制冷，最低可达-20°c，排除热噪声的影响，使图像质量进一步提升。
全封闭式光路设计：全封闭光学系统和恒温冷却系统使测试环境保持在全暗室和恒温环境下，保证了整个系统运行的稳定性；避免了因外界杂光和温度不均造成测试成像噪点，保证了测试的直观性和准确性
强大专用测试软件：全中文显示界面，可自动手动扫描图形码编号并按编码进行文件保存。可放大扫描图像显示细节，方便判断。
半自动太阳能电池组件el缺陷测试仪应用范围
该设备用于检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。
电致发光英文名为electroluminescence，目前电致发光成像技术已被众多太阳能电池和组件厂家使用，用于检测产品缺陷和控制产品质量。
一、el的测试原理
晶体硅太阳电池外加正向偏置电压，电源向太阳电池注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子；再利用ccd相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后显示出来，整个的测试过程是在暗室中进行，通过分析采集的图像特种就能分辨出电池片和组件的潜在缺陷。
二、el图像分析
1.隐裂
硅材料的脆度较大，因此在电池生产强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度过程中，很容易产生裂片，裂片分两种，一种是显裂，另一种是隐裂。前者是肉眼可直接观察到，但后者则不行。后者在组件的制作过程中更容易产生碎片等问题，影响产能。通过el图就可以观测到。
2.断栅
印刷不良导致的正面银栅线断开，el图中显示为黑线状。这是因为栅线断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附近的电流密度较小，致el发光强度下降。
3.烧结缺陷
一般而言，烧结参数没有优化或设备存在问题时，el图上会显示网纹印。采取顶针式或斜坡式的网带则可有效消除网带问题。
4.“黑心”片
直拉单晶硅拉棒系统中的热量传输过程对晶体缺陷的形成与生长起着决定性的作用。提高晶体的温度梯度, 能提高晶体的生长速率, 但过大的热应力极易产生位错。 在“黑心”片的el图中可以清楚地看到清晰的旋涡缺陷, 它们是点缺陷的聚集, 产生于硅棒生长时期。此种材料缺陷势必导致硅的非平衡少数载流子浓度降低，降低该区域的el发光强度。
5.“漏电”问题
在电池正面银浆印刷时，由于硅片表面存在划伤，浆料进入裂缝的pn结位置，分选的iv测试加12v反压时，直接导致正面pn结烧穿短路。因此，el测试时，该区域显示为黑色。
三、el在组件中的应用
组件是由晶体硅太阳电池通过串联或并联的方式连接起来，因此，el也适用于组件的质量监控，在组件层压前和成品监督，均可以使用el抽检组件质量问题。通过组件的el图，可以看出组件内部电池隐裂、断栅、黑心片等问题。
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