日置阻抗分析仪im3570是一款对元器件电感、电容、电阻测量的专业仪器，1台仪器实现lcr测量、dcr测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
lcr模式下最快1.5ms（1khz），0.5ms（100khz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的c-d和低esr测量，电感器（线圈、变压器）的dcr和l-q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
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hioki阻抗分析仪im3570主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
hioki阻抗分析仪im3570基本参数
测量模式 lcr（lcr测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数 z、y、θ、rs（esr）、rp、rdc（直流电阻）、x、g、b、cs、cp、ls、lp、d（tanδ）、q
测量量程 100mω~100mω，12档量程（所有参数由z确定）
显示范围 z、y、rs、rp、rdc、x、g、b、ls、lp、cs、cp：±（0.000000[单位]~9.999999g[单位]，仅z和y显示绝对值
θ：±（0.000°~999.999°），d：±（0.000000~9.999999）
q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度 z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率 4hz~5mhz（10mhz~100hz步进）
测量信号电平 v模式，cv模式（普通模式）
50mv~1vrms，1mvrms步进（1mhz以下）
10mv~1vrms，1mvrms步进（1.0001mhz以上）
cc模式（普通模式）
10μa~50ma rms，10μa rms步进（1mhz以下）
10μa~10ma rms，10μa rms步进（1.0001mhz以上）
输出阻抗 普通模式：100ω，低阻抗高精度模式：10ω
显示 彩色tft5.7英寸，可设置显示on/off
测量时间 0.5ms（100khz，fast，显示off，代表值）
测量速度 fast/med/slow/slow2
hioki阻抗分析仪im3570其他功能 dc偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口 ext i/o，rs-232c，gp-ib，usb通讯，u盘，lan
电源 ac90~264v，50/60hz，最大150va
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口 gp-ib，rs-232c，ext.i/o(所有标准)
电源 ac90~264v，50/60hz，最大150va
体积和重量 330w×119h×307dmm，5.8kg
hioki阻抗分析仪im3570附件 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1
日置hioki电学测试产品是本公司强项品牌价格非常有优势欢迎询价
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