结温是影响led灯具各项性能指标的主要因素，更是严重影响 led灯具可靠性和使用寿命的关键因素。因此有效、便捷、系统地测量led灯具工作状态下的热性能参数，对于led灯具的生产、应用研发及其可靠性评估都有十分重要的意义。
    本设备为国内外首套集光谱法、电学法和环境条件模拟为一体，在对led产品不产生任何破坏的前提下进行结温测量，进而评估灯具的寿命，这对提高产品质量和可靠性等均具有重要意义。本设备不仅可以测量单颗led的结温，还可以对不同规格的led灯具进行结温测量，适用范围较广。
电学法：结温的变化会引起led两端电压的微小变化，在特定电流下，led的前向压降vf与led芯片的温度有相对稳定的函数关系，通过检测不同温度点下的电压值，就可以标定该线性曲线。再测得正常工作下的前向电压值并代入标定的曲线中即可得到该led正常工作时的结温。本系统采用进口脉冲电源和电学测量系统，工作稳定，精度极佳。
注：电学法适用于采用了cob芯片的整灯、模组和cob芯片的结温测量及寿命评估。
注：光学法适用于采用了单颗芯片的整灯、模组和单颗芯片的结温测量及寿命评估。
型号
jt/la-i
jt/la-ii
jt/la-iii
样品最大尺寸（mm）
1100×600×400
500×400×500
340×320×320
适用范围
大型整灯、模组、芯片
中型灯具、模组、芯片
小型灯具、模组、芯片
结温测量精度
±2℃
最大外形包络（约）
3100mm×4000mm×2680mm(宽×深×高)
环境模拟系统供电电源
380v±10%,50hz±1三相四线+接地线，保护接地电阻＜4ω
测试系统供电电源
220v±10%,50hz±1带接地线，保护接地电阻＜4ω
总功率
约23.5kw
约18.4kw
约11.2kw
运行功率
约2—23.5kw（与升降温速率，开启制冷机组相关）
温度调节范围
+5℃～+125℃（任意调节）
温度控制精度
±2℃
可测器件的最大重量
50kg
电学法测量系统
恒流源输出模式
脉冲和直流
电流源输出
可以8路同时输出，每通道电流源输出参数为：0-5a，0-200v
采样率
可以8路同步采样输入，可以达到250 ks/s通道的采样率
通道间隔离电压
300v
最大电压范围精度
2.46mv
光学法测量系统
波长范围
200-1100nm
分辨率
0.025-20nm
光谱仪的积分时间
10毫秒至10分钟
采样速度
3.7毫秒/每次扫描
数据传输速度
3.7毫秒

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