一．仪器介绍：
我公司研制生产的edx-8900系列x荧光分析仪,是国际先进水平的高精度x荧光分析仪，是古文物检测必备的科学检测仪器。在考古、文物鉴定科学领域中，快速无损的鉴别陶器，油画，影印制品，玻璃制品，宝石，青铜及铜合金真伪和年代，对文物、艺术品的修复起到了重要的作用。
edx-8800系列x荧光分析仪采用x荧光能谱分析技术对各类样品中的元素含量进行快速测量。它具有无需进行样品前处理,直接对原始样品进行测量, 100秒内即可获得满意的分析结果。
二．测量原理：
放置样品杯于测量位置，低能x射线管发出x射线激发样品，使样品中不同元素产生出各自的特征x射线，这些特征x射线进入探测器产生脉冲信号，经脉冲谱仪放大器送入信号处理器，信号处理电路将模拟信号转换成数字量，送入单片机接口，软件通过控制接口电路来进行谱数据的采集与控制。分析软件通过对各种特征x射线的强度计算与分析，完成古陶瓷标本胎和釉中na2o、mgo、al2o3、cao、fe2o3、k2o、mno、sio2、tio2、as、cr、cu、 co、mn、ni、pb、ti、v、zn、zr、ba等化学成份含量；青铜器(cu、sn、pb、zn等)、贵金属（au、pt、ag、pb、cu、ni、ru、rh、fe 等）等的化学成份含量检测。通过科学可靠的软件分析和处理，实现断代断源的结果。
三．技术特性 ：
1．超大型抽真空样品腔，满足不同大小、器形的陶瓷样品无损检测。
2．实现金属镀层的厚度检测。
3．采用技术精度高、稳定性好、故障率低的高低压电源。
4．选用高信噪比的电子线路系统。
5．可自动切换多种选择的3个准直器和4个滤光片。
6．具有光路增强系统。
7．内置双高清晰摄像头，在观察测量点的同时可以同时监控样品在腔体内的状态。并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。
8．fp 与ec相结合的智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，功能强大，操作简单。 
9．windows xp 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。
10．多变量非线性回归程序。
11．独特的相互独立的基体效应校正模型。
12．led顶灯，为观察样品提供充足的光源。
13．计算机实时监控仪器运行过程中的各个参数。
14．先进的仪器漂移修正，确保仪器长期稳定。
15．辐射安全系统：隐蔽式设计。硬件及软件结合的四重安全保护模式，辐射安全性高。
16．高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性

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