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XTDP XTDP-II 工业摄影测量是个便携式三坐标工业测量系统

2021-5-28 10:26:45发布13次查看
  • 品牌:西交大
  • 型号:XTDP
  • 规格:XTDP-II

苏州西博三维科技有限公司 - 品牌介绍技术实力雄厚     品牌质量保证
苏州西博三维科技有限公司作为光学工业测量行业的佼佼者,是您可以信赖的事业伙伴。苏州西博三维科技有限公司是一家专业提供研发生产白光、激光检测系统和设备的科技型企业,是国内相关技术领域研究较早、综合实力最强、应用领域最广、技术种类和服务能力最强的科技型公司。公司位于苏州工业园区,依托西安交通大学模具与先进成形研究所、西安交通大学苏州研究院,长期潜心于三维光学测量的基础及应用研究,充分利用了西安交通大学的研发优势,基于产学研相结合的平台成立的新型科技型企业。公司在西安交通大学研究的基础上,经过多年的积累,在光学测量和工程领域取得了一批高水平的研究成果,形成产业化链。
西安交通大学模具与先进成形技术研究所前身为创办于1952年的锻压教研室。研究所现有教授与工程技术人员21人,硕士与博士研究生100余人。形成了一支结构合理、精干、多学科交叉的教学科研队伍,承担着全院关于模具与先进成形技术研究方向的本科生、研究生的培养和相关科研任务。研究所获得国家技术发明二等奖1项,国家科技进步二等奖1项,省部级科技进步奖4项,发明专利12项,发表科研论文500余篇,ei、sci、istp收录的论文100余篇,承担多项重大科研项目。   
研究所近年来从事三维实体数字化的科学研究,研制了系列光学三维测量系统,并在逆向工程设计、三维数字化检测技术方面进行了大量研究,在三维数字化技术的三维实体数字扫描、三维机械和模具设计、三维检测技术方面的研究处于国内外领先水平。
xtdp三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。
系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。
0.1 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:
(1)基本测量功能:
测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面
测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算
※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率
※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型
计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作
※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制
※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析
※数模对比功能:可以对被测工件与cad数模进行三维几何形状比对
测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示
显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置
※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能
多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析
※多核加速:多核cpu并行运算,提高系统解算速度
支持系统:同时支持32位、64位系统
(2)变形测量功能:
参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态
对齐模式:支持id转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式
搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性
分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择
测量结果:包含x,y,z三维位移分量及总位移e
结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置
(3)数模对比功能:
※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式
※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择
检测结果:包含x,y,z三维偏差分量及总偏差e
结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置
(4)分析报告功能:
坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能
※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥
※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角
屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告
数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持txt,xls,doc文件的输出
(5)扩展接口
※系统扩展:可配合xtom型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度
0.2 技术指标 
指标名称
技术指标
1. 
核心技术
工业近景摄影测量
2. 
※测量结果
三维坐标、三维位移
3. 
测量幅面
支持几十厘米到几十米的测量幅面
4. 
测量相机
支持多种单反、工业相机图像计算
5. 
※相机数目
支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率
6. 
相机标定
软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型
7. 
测量精度
最高±0.015mm/m
8. 
※标志点类型
支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制
9. 
※静态变形分析
通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动
10. 
※三维数模对比
可以对被测工件与cad数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示
11. 
※厚度补偿功能
具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能
12. 
※坐标转换功能
321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能
13. 
※元素创建功能
可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素
14. 
※分析创建功能
可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析
15. 
※多核加速
多核cpu并行运算,提高系统解算速度
16. 
系统兼容性
兼容32位、64位系统
17. 
系统扩展接口
系统可单独使用,也可配合xtom型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度

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