加工定制否	品牌Fischer
型号XULM/XDL-B	类型多元素分析仪器
测试范围元素17-92	测量时间自己调整
测量精度误差不大	电源电压220VHZ
适用范围金属元素

使用 fischerscope? xdlm? 237. 测量小型结构上的
涂层厚度使用 fischerscope? xdv?-sdd. 测量至纳米
范围内的极薄涂层，例如 au 和 pd，并确定焊锡中的
铅含量以检测 rohs 一致性使用 fischerscope? 
xdv?-μ. 测量具有极小测量点的***小结构上的涂层厚
度。使用 fischerscope? mms?-pc2. 确定非蚀刻或蚀
刻电路板上铜层和阻焊层的厚度，确定钻孔中的铜厚
度使用 phascope? pmp10.确定非蚀刻或蚀刻电路板上
铜层厚度，确定钻孔中的铜厚度。使用 
fischerscope? mms?-pc2 或sr-scope? rmp30-s. 确
定多层或薄板上的铜层厚度，而不受对面同层的影响
。使用 couloscope? cms. 确定化学镀锡电路板上的
残余锡层厚度。使用 picodentor? hm500.确定电路板
上镀金触点的显微硬度.本公司专业维修膜厚仪x光管
更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手
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