上海abs镀层x荧膜厚仪我公司集中了国内最优秀的x荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠先进科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的thick-900系列x荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
   它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
上海abs镀层x荧膜厚仪thick-900系列x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到x射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征x射线，不同的元素有不同的特征x射线；探测器探测到这些特征x射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
仪器的技术特性
1．x-y-z样品平台移动装置
上海abs镀层x荧膜厚仪thick-900系列x荧光镀层测厚仪的x-y-z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2. x射线管激发系统
激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。**功率50 w。电压0 -50 kv，电流0-1000ua。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命x光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的x光管，指标达到国际先进水平。**功率50w，管压5-50kv；管流电流0-1000ua。
3．高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。*分辨率能达到149ev±5ev。
4．能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。
5．计算机分析系统
高级名牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
6．系统软件
国际领先的xrf分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（fp法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

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