纳优科技nau-e600型镀层测厚仪器技术参数： 测试对象：粉未、固体、液体 分析元素范围：s-u测试时间：100-200s 管压：10kv-50kv 管流：50ua-1000ua 最佳分辨率：149±5ev样品尺寸要求（限镀层厚度测量）：2mm×2mm 最低检出限（限rohs检测）： cd/cr/hg/br≤2ppm pb≤5ppm测量参数：最多可同时分析5层镀层 最低可测试0.05um厚度的镀层 输入电源 ： ac 220v±10%,50hz(建议配置净化稳压电源) 额定功率：300w 环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：30%-80%样品腔尺寸：400mm×400mm×100mm 外形尺寸：730mm×440mm×330mm 重量：30kg纳优科技nau-e600型镀层测厚仪器配置明细： x荧光光谱仪专用光管 高分辨率电制冷半导体探测器预备卤素测试升级系统 多道分析器 增益放大器 二维移动样品台 零至满量程可调谐式高压电源 光管散热系统（专利技术） 光路优化系统复合滤光处理系统 内置高清晰ccd摄像头 自动切换准直器和滤光片（专利技术） 全自动定位测试系统 样品仓自动开关装置 三重安全保护模式标样 计算机 打印机 *概述：nau-e系列能量色散x射线荧光光谱仪是纳优科技（北京）有限公司研发团队30多年x荧光分析领域技术沉淀及理念革新的力作，其技术源于纳优科技公司研发团队于2008年7月承接的“十一五”国家科技支撑计划项目——绿色制造关键技术与装备（*注1），系列产品均满足中华人民共和国工业和信息化产业部于2009年7月3日颁布的《rohs检测用x荧光能谱仪（xrf）性能评价规范》（*注2），是迄今为止唯一获得由工业和信息化部电子信息产品污染控制技术促进中心、中国合格评定国家认可委员会、中国电子技术标准化研究所以及赛西实验室等联合颁发的检测报告暨仪器检测鉴定证书（*注3）的x荧光光谱仪产品。其中，最具代表性意义的为nau-e600及nau-e800型edxrf，前者是业界首款实现rohs及卤素（着重于氯元素的检出和测试）一体化测试的新型能量色散x射线荧光光谱仪；后者的研制成功，标志着国内x荧光光谱仪制造企业完全掌握了偏振二次靶x荧光光谱仪的研发、生产工艺技术，打破美、日、德、英等发达国家对中国企业在该领域近20年的技术封锁和垄断。二者的成功面市，是纳优科技公司从以往“量”性市场策略迈向“质”性产品战略的转折点，此外，产品的简练外观设计及注重配置性能等特点也很好地体现了这一点！随着全球各经济共同体以及越来越多的国家出台众多环保管控举措，纳优科技公司与各受限企业面临同样的压力！正是这种压力，使得纳优科技研发团队重新整合相关资源，攻克重重难关，研制出nda系列能量色散x射线荧光光谱仪，与各受限企业共同应对日益严格的环保限令管控。*注1：项目课题：出口机电产品国际绿色贸易壁垒应对技术及应用；子课题：支持rohs指令的新型x荧光分析仪开发与企业应用；项目组织单位：中国机械工业联合会；课题负责人：杨李锋（纳优科技公司总经理）。*注2：《rohs检测用x荧光能谱仪（xrf）性能评价规范》为全球范围内首部用于评价能量色散x荧光光谱仪的性能的参照范本，其中包括：安全性能、仪器硬件基本性能指标及分析方法配置、精密度指标测试、准确度指标测试、典型材料（聚合物、金属等）中各种有害元素的检出限、仪器对不同基体材料测量的适应性和扩展性及其它性能参数等测试项目以及仪器性能评价步骤等，对于x荧光光谱仪生产厂家和购买仪器的用户均有实际参考指导意义。*注3：该检测必须“一机一检”，其检测内容、方法及步骤等均以《rohs检测用x荧光能谱仪（xrf）性能评价规范》（见注2）为准。检测报告也称仪器检测鉴定证书，该证书最大的特点就是“唯一性”，一机一证，证书封页注明仪器出厂编号、检测报告编号的同时，需盖有检测执行单位赛西实验室的试验报告专用章、中国合格评定国家认可委员会检测专用章、mac及mra检测专用章；证书第一页盖有赛西实验室的试验报告专用章；整份证书需盖有赛西实验室矩形骑缝章印。

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