加工定制否	品牌CUH
类型薄片振动盘	型号thisis型号
功率功率4698W	振幅振幅3710
底盘尺寸底盘尺寸6077mm	适用范围适用范围9130
产品认证产品认证9807

目前市面上有多种老化测试系统实现方法，除了老化系统生产厂商制造的通用型产品外，半导体厂商也在内部开发了一些供他们自己使用的此类系统。大多数系统都采用电脑作主机，用于数据采集和电路基本控制，而一些非计算机系统只能用led作为状态指示器，需要人工来收集数据。
为了能对老化板上的每一器件作独立测试，必须要在老化系统控制下将每个器件与其他器件进行电性隔离。存储器件非常适合于这种场合，因为它们被设计成按簇方式使用并带有多路选通信号，而逻辑器件则可能无法使用选通信号，这使得在老化系统中设计通用逻辑测试会更难一些。因此针对不同器件类型存在不同的逻辑老化系统是很正常的。
串行测试法
串行测试比并行测试操作容易一些，但是速度要慢很多。除了每个器件的串行信号返回线，老化板上的每个器件通常都并联在一起。该方法用于有一定处理功能并可通过一条信号返回线反映各种状态的器件。测试时传送的数据必须进行，因此老化板上应有数据处理系统。
·非易失性存储器(eprom和eeprom)
非易失性存储器测试起来比较困难，这是因为在写入之前必须先将里面的内容擦除，这样使得系统算法更困难一些，通常还必须使用特殊电压来进行擦除。不过其测试方法基本上是相同的：把数据写入存储器再用更复杂的算法将其读回。
采用这种方法时，jtag测试端口和整个系统必须要设计到器件的内部。器件上用于jtag测试的电路属于专用测试口，用来对器件进行测试，即使器件装在用户终端系统上并已开始工作以后，该测试口还可以使用。一般而言，jtag端口采用很长的串联寄存器链，可以访问到所有的内部节点。每个寄存器映射器件的某一功能或特性，于是，访问器件的某种状态只需将该寄存器的状态数据串行移位至输出端即可。
采用同样技术可完成对器件的编程，只不过数据是通过jtag端口串行移位到器件内部。ieee 1149.1的说明里详细阐述了jtag端口的操作。

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