sft9400系列 x射线荧光镀层厚度测量仪 产品副名称:可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 产品型号:sft9400、sft9450、sft9455 产品特点: ★ 搭载有高功率x射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管) 可对应组合复杂的应用程序,特别是可识别ni和cu之类能量较为接近的元素。 能够对ni/cu和au/ni/cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量对于含br的电路板,可以不受br的干扰对au的镀层厚度进行高精度的测量 可测量0.01μm以下的超薄的au镀层厚度 ★ 搭载块体fp发软件和薄膜fp法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域 ★ 适用超微小面积的测量 标准配备的15μmφ的准直器,可对超微小面积进行测量。 ★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统 ★ 拥有防冲撞功能 ★搭载高精度样品平台,更可测量大型线路板(sft9455) ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 产品介绍: sft9000系列里最高级的机型「sft9400系列」搭载有75w高功率x射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管),能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。此外,sft9400系列还在测量镀层厚度的基础上,新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。 sft9400系列产品规格 型号 sft9400/sft9450/sft9455 仪器的特长 微小面积对应及高性能型 可测量元素 原子序号22(ti)~ 83(bi) x射线源 小型空气冷却型高功率x射线管球(mo靶) 管电压:50kv 管电流:1.5ma be窗 滤波器一次滤波器:mo-自动切换 二次滤波器:无 照射方式 上方垂直照射方式 检测器 半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器) 仪器校正 自动校正+手动校正 准直器(标准配置) ○型(φ0.015、φ0.05、φ0.1、φ0.2mm) 安全性能 样品室门锁,样品防冲撞功能 样品图像对焦 有(激光对焦) 样品观察 ccd摄像头+倍率光学器+卤素灯照明 焦点切换功能3段切换9400:10/40/70mm 9450:10/25/40mm x-ray station 台式电脑 (os; ms-windows xp?) 打印 喷墨打印机 应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 软件 块体fp法软件、薄膜fp法软件 测量功能 自动测量、中心搜索、图像识别处理 修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正 统计处理功能 ms-excel报告制作功能 ms-word 联系人:刘先生 fax:0755-23493351 qq:254401596 邮箱: 贸易通:jinhui8403 邮政编码:518102 深圳市宝安大道盐田商务广场a座421室

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