日置c测试仪3504-60适合用于封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
日置c测试仪3504-60|hioki日置电容测试仪3504-60
能根据c和d（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用bin的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日置c测试仪3504-60|hioki日置电容测试仪3504-60
基本参数
测量参数 cs,cp（电容）,d（损耗系数tanδ）
测量范围 c:0.9400pf～20.0000mf
d:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）c: ±0.09% rdg.±10 dgt., d:±0.0016
※测定精度=基本精度×b×c×d×e, b～e为各系数
测量频率 120hz, 1khz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mv (仅限3504-60)，500 mv, 1 v
日置c测试仪3504-60|hioki日置电容测试仪3504-60
测量范围:
cv 100mv:～170μf量程(测量频率1khz),～1.45mf量程(测量频率120hz)
cv 500mv: ～170μf量程(测量频率1khz),～1.45mf量程(测量频率120hz)
cv 1v: ～70μf量程(测量频率1khz),～700μf量程(测量频率120hz)
输出电阻 5ω（cv测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms（1 khz, fast）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 bin分类测量(3504-40除外),触发同步输出,测量条件记忆,测量值的比较功能,平均值功能,low-c拒绝功能,振动功能,控制用输出输入(ext. i/o), rs-232c接口（标配), gp-ib接口(3504-40除外)
电源 ac 100/120/220/240v ±10%（可选择）, 50/60hz,**110va
体积及重量 260w ×100h×220dmm, 3.8kg
附件 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
(日置c测试仪3504-60|hioki日置电容测试仪3504-60主机不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
日置hioki电学测试产品是本公司强项品牌价格非常有优势欢迎询价
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夏斌
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