加强买卖keithley4200a-scs参数分析仪
产品：keithley/吉时利
产品型号：4200a
产品名称：参数分析仪
产品产地：美国
keithley吉时利4200a-scs参数分析仪
使用 4200a-scs 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
4200a-scs 是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪，可以同步查看电流电压(i-v)、电容电压(c-v) 和超快速脉冲式i-v 特性。作为性能高的参数分析仪， 4200a-scs 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200a-scs clariustm 基于gui 的软件提供了清楚的、不折不 扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时 可以投入使用的应用测试，clarius software 可以更深入地挖掘 研究过程，快速而又满怀信心。
4200a-scs 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配 置，不管是现在还是未来，都可以随时对系统进行升级。通过 4200a-scs 参数分析仪，通往发现之路现在变得异常简便。
主要性能指标
i-v 源测量单元(smu)
± 210 v/100 ma 或 ± 210 v/1 a 模块
100 fa测量分辨率
选配前端放大器提供了 10 aa测量分辨率
10 mhz - 10 hz 超低频率电容测量
四象限操作
2 线或 4 线连接
c-v 多频率电容单元(cvu)
ac 阻抗测量 (c-v, c-f, c-t)
1 khz - 10 mhz 频率范围
± 30 v (60 v差分)内置dc偏置源，可以扩展到± 210 v(420 v 差分)
选配 cviv 多通道开关，在 i-v 测量和 c-v 测量之间简便切换脉冲式i-v 超快速脉冲测量单元(pmu)
两个独立的或同步的高速脉冲 i-v 源和测量通道
200 msa/s，5 ns 采样率
±40 v (80 v p-p)，±800 ma
瞬态波形捕获模式
任意波形发生器 segment arb® 模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率
高压脉冲发生器单元(pgu)
两个高速脉冲电压源通道
±40 v (80 v p-p)，± 800 ma
任意波形发生器 segment arb®模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率i-v/c-v 多通道开关模块 (cviv)
在 i-v测量和 c-v 测量之间简便切换，无需重新布线或抬起探针
把 c-v测量移动到任意端子，无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(rpm)
在 i-v 测量、c-v 测量和超快速脉冲 i-v 测量之间自动切换
把 4225-pmu的电流灵敏度扩展到数十皮安
降低电缆电容效应
4200a-scs 仪器和模块
型号
说明
主要测量
范围
测量分辨率
4200-smu
中等功率源测量单元
dc i-v
超低频率 c-v
准静态 c-v
±100 ma, ±210 v
0.2 mv, 100 fa
4210-smu
高功率源测量单元
±1 a, ±210 v
0.2 mv, 100 fa
4200-pa
远程前端放大器模块
扩展所有 smu 的电流范围
0.2 mv, 10 aa
1 khz - 10 mhz
4210-cvu
电容电压单元
ac 阻抗
c-v, c-f, c-t
±30 v 内置dc 偏置装置(60 v 差分)
使用 smu 扩展直流偏置电压至
-
±210v
4200a-cviv
i-v/c-v 多通道
开关模块
dc i-v 和 c-v 自动切换
-
-
脉冲式 i-v
segmentarbr® 多电平脉冲
瞬态波形捕获
±40 v (80 v p-p), ±800 ma
200 msa/s 同时测量电流和电压
4225-pmu
超快速脉冲测量单元
2048 个段
75 na
20 ns 脉宽仅输出时
60 ns 脉宽输出同时测流时
4225-rpm
远程前段放大器 /
开关模块
dc i-v、c-v、脉冲式 i-v
间自动切换
扩展 4225-pmu 单元的电流范围
200 pa
4220-pgu
高压脉冲发生器单元
脉冲式电压源
segment arb® 多电平脉冲
±40 v (80 vp-p)
2048 个段
-
接地单元
内置低噪声接地单元
-
三同轴连接 : 2.6 a
接线柱 : 9.5 a
-
提取或测量参数列表实例
cmos 晶体管
id-vg, id-vd, ig-vg, vth, vtlin, sub-vt, rds-on, breakdown, capacitance, qscv, low-frequency cv, self-heating reduction and more
bjt
ic-vc, vcsat, gummel plot, capacitance, βf, αf
非易失性存储器
vth, endurance test, capacitance
纳米尺寸器件
resistance, id-vg, id-vd, ic-vc
分立元器件
id-vg, id-vd, ic-vc, vfdiode, vrdiode, capacitance
材料
van der pauw, 4-point collinear resistivity, hall effect
光伏器件
iforward, ireverse, hir, lor
功率器件
pulsed id-vg, pulsed id-vd, breakdown
可靠性
nbti/pbti, charge pumping, hot carrier injection, v-ramp, j-ramp, tddb

---

深圳市金诚电子仪器有限公司
86-0755-29489781
13714064225