| 加工定制否 | 品牌Agilent/安捷伦 |
| 型号MAP-200(230) | 类型线材测试仪 |
| 外形尺寸10*21mm | 重量23Kg |
| 产品用途很多 | 规格2 |
详细说明
jdsu 将下一代波长测试创新技术引入了光学实验室和生产线。基于 map 的全新集成多波长波长计和高分辨率 osa 模块将ghz以下分辨率性能和紧凑的模块化设计集成在一个单插槽模块盒中。它可用于 map-230b 和 map-280 主机,并且可以与其他 jdsu map 模块如功率计、衰减器、开关、光源等一系列信号调节模块配合使用。它是一款功能丰富的多波长波长计和带分析功能的高分辨率 osa,可通过易于使用的 gui 或 map-200 自动化接口进行控制。它基于相干检测技术,没有活动部件,并且提供前所未有的频率分辨率,可以精确地报告密集光信号(信道间隔***小可达 2 ghz)的功率电平和中心频率。这一开创性的解决方案为可靠性、紧凑性和性能至关重要的实验室和生产测试系统提供了理想的解决方案。主要特性? ghz以下的-波长分辨率? 扩展的 c 波段采集范围? 测量频率、功率电平和 osnr? 连续测试模式和平均测试模式? 测量边模抑制比应用? dwdm 传输系统? 光源? 光模块和线路板卡? 检测 10/40/100/400 g 器件件和系统? 验证和部署 100 g 及 400 g 灵活栅格 dwdm
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