【thinkfocus】光谱共焦位移传感器-非接触式清漆 漆膜厚度检测
传统测定干膜厚度的方法： 光谱共焦位移传感器测定清漆漆膜厚度
用测微计或千分表来测量漆膜厚度，即底材加漆膜的总厚度与底材厚度间的差值。
有两种测定漆膜厚度的方法：
a）在除去涂层前后测量（破坏性方法）
先测量规定区域的总厚度，然后除去测量区域的涂层后再测量测量底材的厚度。
b）在涂敷涂料前后测量（非破坏性方法）
先测量底材厚度，在涂敷涂料后再测定相同测量区域的总厚度。
漆膜厚度可从两个读数的差值计算得到。
只需将白光打在清漆表面（如上图所示），即可直接读出厚度值（如下图所示）：
此方法高效，便捷，无需破坏涂层。
*精度可在1um以内
使用光谱共焦位移传感器测量清漆漆膜厚度的应用在欧洲国家应用已经非常成熟。
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