名称:数显千分测厚规/薄膜测厚规
类型:手持式数显千分测厚规
主要功能:任意位置置零，便于微差测量。制式任意转换，适应不同的单位制。数据保持。快速显示。快速跟寻**值（只显示一组测量数据中的**值）。快速跟寻最小值（只显示一组测量数据中的最小值）。备有串行数据输出口，经适配器可与带rs-232插口的计算机或打印机连接进行数据处理。
技术指标。量程 0～12.7mm/0-0.5
示值分辨力 0.001mm /0.0005
工作电源： 3v 扣式电池 
工作环境温度: 0～40℃
储存温度 -10～60℃
环境湿度 ＜ 80％
最小读值(mm)：0.01
测定范围(mm)：0～10
测定喉深(mm)：20数显千分测厚规
测头样式：φ10mm陶瓷平面
测压n以下：1.8
应用领域:
1 半导体行业:光阻、氧化物、氮化物； 
2 lcd 行业: 液晶盒间隙厚度、polyimides； 
3 光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片；
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