性能特点
高效超薄窗x光管，指标达到国际先进水平
*的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。在合金检测中效果更好
sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能x射线激发待测元素，对si、p等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：edx 4500
产品名称：x荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（na）到铀（u）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5ev
管压：5kv-50kv
管流：50μa-1000μa
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：ac 110v/220v
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg
标准配置
高效超薄窗x光管
sdd硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片

---

江苏天瑞仪器股份有限公司
李久昶
15862632251
江苏省昆山市中华园西路1888号