天瑞仪器x射线镀层测厚仪产品图
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：thick 800a
元素分析范围从硫(s)到铀（u）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm
样品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
si-pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
x光管。
高度传感器

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江苏天瑞仪器股份有限公司
孙经理
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