日本densoku电测x射线荧光膜厚度计cosmos-3x
日本densoku电测x射线膜厚度计cosmos-3x
节省空间小
极小的部件，具有出色的可操作性
以高精度测量
日本densoku电测x射线膜厚度计cosmos-3x
·使用双重滤波器，以高精度和好条件进行测量
- 即使在使用多任务功能进行测量期间，也可以进行其他处理，包括创建报告。
·最小的准直器为0.05mm，可以测量极小的部件
x射线荧光膜厚度计cosmos-3x的特点
采用双滤波器
除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在好条件下进行测量，以便始终获得高精度。
增强的报告创建功能
通过采用ms-windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。
内置5种准直器
准直器的最小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自诊断功能和x射线管维护功能
自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示x射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。
薄膜厚度测量期间的光谱显示
通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒）
显示测量单位的监视图像
将x射线照射单元导入windows屏幕并显示x射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。
使用be window x射线管（可选）提高性能（高精度）
我们为荧光x射线胶片厚度计ex-731准备了be窗口x射线管（可选）。
是的。通过使用此选项，可以在cr测量和ni测量中重复测量精度
将大大改善。
关于绩效改进的评论
高能量（高原子序数）sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低）
no。）在cr和ni测量的情况下，根据膜厚度，cr为3倍或更多，ni为2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面层的au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间ni已经提高了约20％。 x射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光x射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用be窗口x射线管（可选）
在cr的情况下，它表明荧光x射线强度比传统的标准机器高约9倍。
有你。因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
日本densoku电测x射线荧光膜厚度计ex-731
以高精度测量极小部件，具有出色的可操作性
可以测量大尺寸的基础
·使用双重滤波器，以高精度和好条件进行测量
- 通过将鼠标定位在测量位置来实现快速定位
- 即使在使用多任务功能进行测量期间，也可以进行其他处理，包括创建报告。
·小的准直器为0.05mm，可以测量极小的部件
x-7荧光膜厚度计ex-731的特点
采用双滤波器
除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在好条件下进行测量，以便始终获得高精度。
自动测量阶段
通过将鼠标移动到测量位置来实现快速定位。此外，如果您注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。
增强的报告创建功能
通过采用ms-windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。
内置5种准直器
准直器的最小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自诊断功能和x射线管维护功能
自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示x射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。
薄膜厚度测量期间的光谱显示
通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒）
显示测量单位的监视图像
将x射线照射单元导入windows屏幕并显示x射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。
目测显示被测物体的镀层附着力分布
使用3d图形显示可以一目了然地看到被测物体的镀层厚度分布。
使用be window x射线管（可选）提高性能（高精度）
我们为荧光x射线胶片厚度计ex-731准备了be窗口x射线管（可选）。
是的。通过使用此选项，可以在cr测量和ni测量中重复测量精度将大大改善。
关于绩效改进的评论
高能量（高原子序数）sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低）
no。）在cr和ni测量的情况下，根据膜厚度，cr为3倍或更多，ni为2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面层的au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间ni已经提高了约20％。 x射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光x射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用be窗口x射线管（可选）
在cr的情况下，它表明荧光x射线强度比传统的标准机器高约9倍。
有你。因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
请考虑采用这种be窗口x射线管。
日本densoku电测x射线荧光膜厚度计ex-851
自动对焦
可以选择两种测量模式，使测量工作更加顺畅
全自动对焦模式
→用激光指示器设置要照射的物体并关闭门。
舞台自动移动和测量。
·半自动对焦模式
→以与上面的全自动对焦模式相同的方式设置测量对象。
¡当门关闭时，舞台自动移动并聚焦。
直到手术。
x-8荧光膜厚度计ex-851的特点
自动对焦
只需将测量部件移动到激光指示器的位置，然后关闭门以自动移动到测量值并执行测量。测量后，当门打开时，舞台自动返回到前面。
自动测量阶段
通过将鼠标移动到测量位置来实现快速定位。此外，如果您注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。
采用双滤波器
除数字滤波器外，还可以使用机械滤波器（双滤波器）在好条件下进行测量，以便始终获得高精度。
增强的报告创建功能
通过采用ms-windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。多任务功能可以启用其他过程，包括在测量期间创建报告。
内置5种准直器
准直器的最小部分为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，还有两种特殊规格可供选择。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自诊断功能和x射线管维护功能
自我诊断功能迅速处理设备故障解决。此外，它还通过添加显示x射线管的使用时间和耐久时间的功能来支持维护安全性。
薄膜厚度测量期间的光谱显示
通过多通道的频谱分析的高速处理，通过简单的操作来执行被测对象的频谱显示。 （处理速度约2-3秒）
显示测量单位的监视图像
将x射线照射单元导入windows屏幕并显示x射线照射单元。实现放大倍率变化功能，通过准直器改变尺寸。
目测显示被测物体的镀层附着力分布
使用3d图形显示可以一目了然地看到被测物体的镀层厚度分布。
使用be window x射线管（可选）提高性能（高精度）
我们为荧光x射线胶片厚度计ex-731准备了be窗口x射线管（可选）。
是的。通过使用此选项，可以在cr测量和ni测量中重复测量精度将大大改善。
关于绩效改进的评论
高能量（高原子序数）sn测量与以前相同，但能量低（原子序数低）
no。）在cr和ni测量的情况下，根据膜厚度，cr为3倍或更多，ni为2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面层的au的情况下，在两层测量中，一点点
由于精度提高的贡献，层间ni已经提高了约20％。 x射线荧光膜厚度计
在重复测量精度（标准偏差）的情况下，获得产生荧光x射线强度的过程。
这是由于统计波动，并应用be窗口x射线管（可选）
在cr的情况下，它表明荧光x射线强度比传统的标准机器高约9倍。
因此，可以在短时间内执行与之前相同精度的测量。
请考虑采用这种be窗口x射线管。

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