x射线荧光膜厚仪x射线荧光膜厚仪产品介绍
x射线荧光膜厚仪技术指标：
1.1 分析元素范围：cl（17）-u（92）
1.2 同时可分析多达5层镀层以上
1.3 分析厚度检出限0.01μm
1.4 多次测量重复性可达0.01μm
1.5测量时间：5s-300s
1.6 计数率：0-8000cps
x射线荧光膜厚仪工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5v
2.4 周围不能有强电磁干扰。
x-ray膜厚仪配置清单
名  称
参  数
数  量
单  位
1.硬件配置
正比接收器
/
1
pcs
w靶x射线发生器
/
1
pcs
光学准直器
φ0.05mm
φ0.1mm
φ0.2mm
φ0.5mm
可任选其中一种
1
pcs
可变焦镜头
/
1
pcs
主控板
/
1
pcs
信号放大器
/
1
pcs
分配板
/
1
pcs
高精密xy移动平台
/
1
pcs
高清工业摄像头
/
1
pcs
x射线高压板
/
1
pcs
高低压电源
/
1
pcs
2.软件配置
efp-t镀层分析软件
/
1
套
3.计算机配置
内存
4g
1
套
硬盘
160g
显示器
19'lcd montor
4.喷墨打印机
彩色喷墨打印机
/
1
台
5.附件
软件密码狗
/
1
pcs
网线、usb线、电源线
/
3
pcs
高压钥匙
/
2
pcs
样品测试膜
/
1
卷
ni/fe（5μm）标准片
/
1
pcs
au/ni/cu（0.1μm/2μm）标准片
/
1
pcs
u盘（数据备份）
/
1
pcs
十二纯元素标准片
/
1
pcs
xtu-ax-ray膜厚仪采用efp无标样测试法，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析。 0.05 mm  ； 0.1 mm； 0.2 mm； 0.5 mm；准直器任意选择一种。测试面积约 0.06 mm；具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)；
x-ray膜厚仪xtu-a技术参数：
测量元素范围:cl（17）-u（92）
涂镀层分析范围: 各种元素及有机物  efp，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析，
探测器/接收器:日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2
x射线装置:升压发射一体高分子聚合式w靶微聚焦加强型射线管
射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器 垂直光路交换装置搭配100mm变焦镜头
样品观察功能：1/2.5彩色ccd，全局快门，有效像素：1280*960.变焦功能
对焦方式：高敏感镜头（无需增加其它辅助传感器），手动对焦
仪器尺寸：外部尺寸540mm*430mm*475mm
样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（c型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）
样品移动方式;高精密xy手动滑轨  可移动范围 40mm*50mm
电气参数:电源：交流220v 50hz 功耗：120w（不包括计算机）
环境要求:使用时温度：10°c-40°c   存储和运输时温度：0°c-50°c  空气相对湿度：≤80%
重量:45kg
随机标准片:十二元素片、ni/fe 、au/ni/cu
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
性能优势：
 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
 高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
 efp先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。
仪器规格：
 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
 仪器重量 ：55kg
 供电电源 ：交流220±5v
 功率 ：330w
 环境温度：15℃-30℃
 环境相对湿度：<70%
技术参数：