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这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。德国菲希尔 fischerscope x-ray xdl-b膜厚测试仪技术参数。
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fischerscope x-ray xdl是采用根据技术标准din50987，iso3497和astm b568的x-射线荧光测试方法；原始射线从上至下；.x-射线管高压设定可调节至佳的应用50kv，40kv或30kv.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4x0.4mm方形。
未调整时要进行调整。塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。我们已取得diniso9001：2000认证，我们的校准实验室也取1831年8月26日，法拉第用伏打电池在给一组线圈通电（或断电）的瞬间，在另一组线圈获得的感生电流，称之为“伏打电感应”。典型的应用领域有：薄镀层如铜铟镓硒cigs，cis和cdte等电子和半导体工业中的镀层测量和分析无损地分析黄金。优秀的人体工程学设计，简单易学的操作过程，快速准确的结果计算和数据输出，是本款仪器的突出优点。膜厚测量仪中的一些精密设备，都已经在出厂前调节稳固，使用者切记不要随意拆卸，如果有需要可以联系厂家。因为所得纱线的读数选用差值法，不论校准是不是准确。1.测量范围广泛 6在同一种仪器状态下所得的两个值的差值老是一定的。