sid4-hr高分辨波前传感器
基于phasics四波横向剪切干涉专利技术，sid4-hr波前分析仪提供了比较高的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微…
sid4-hr                          光学器件测量              自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，phasics的sid4-hr波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：400x300相位图
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
应用：
由于其分辨率高，sid4-hr波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学和等离子体表征
光学：精密透镜测试和表面测量
生物学：定量相位显微术
sid4-hr产品参数：
波长范围
400 - 1100 nm
通光孔径
8.9 x 11.8 mm2
空间分辨率
29.6 µm
采样点（相位/强度）
300 x 400 (> 120 000   points)
相位相对灵敏度
< 2 nm rms
相位精度
15 nm rms
动态范围
>   500 µm
采样频率
> 10 fps
实时分析频率
>   3 fps (full resolution)
数据接口
giga ethernet
尺寸(w x h x l)
54 x 46 x 79 mm
重量
~250 g
相关产品：phasics , sid-hr , 波前分析仪 , 波前传感器

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上海屹持光电技术有限公司
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