2016年推出的微区x射线荧光分析仪atlas，作为一款能量色散型x射线荧光分析仪（edxrf），atlas的空间分辨率、操作自动化，束斑尺寸等诸多性能指标表现优异，目前atlas有两个型号m和x（尺
微区x射线荧光分析仪atlas 产品详情
电路板的x射线面分布图，（cu, br, ti, ca, fe, sn, ni, zn）
介绍：
ixrf专注于精确地微区痕量元素分析产品，包括齐全的能谱仪（eds）和x射线荧光（xrf）。
在硬件方面，作为一款台式xrf，atlas-m型号的体积为890×560×560mm，具有较大的样品仓体积，相对应的是较大的样品台行程以及重的载重量，而与此同时，却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s，移动精度≤1μm。
其采用的毛细管聚焦技术，可将束斑缩至5μm，另外也可通过选用准直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调；其多大8片的滤波片选择，可满足更多的分析需求。
在软件方面，作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司，ixrf在atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。
在数据的获取及处理上，可实现数据的一键采集，或自动或手动的鉴别样品成分，并利用fp建模或quantitative match等功能实现样品成分的定量分析；在图像处理方面，不仅可对获取的图像进行拼接，还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能；在面分布及线扫描方面，可同时获得多达35种元素的信息，并且实现单像素的谱图数据采集，并可完全保存下来，后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。
在应用方面，可在各种环境，如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品，无论是固体、液体、颗粒、粉末，样品大小，抛光与否，表面粗糙与否皆可轻松胜任，且实现无损分析。
鉴于atlas的突出的性能特点，其被广泛的应用到地矿文博、电子器件、环境监测、刑侦医学、医药检测等方面。
atlas-m型号技术参数
样品类型
固、液、颗粒、粉末
测试介质
空气、真空、氦气
激发源
12-50w, 0-50kv, 200μa-1ma
激发源参数：
靶材
束班尺寸
滤片
多毛细管或准直器
铑（其他可选）
5μm-1000μm连续可调
大8片
探测器
分辨率
活区面积
sdd
135-145ev
50-150mm2
样品台
x、y、z三轴可动
大320x320mm可移动范围
大载重10kg
mapping大尺寸
样品移动速度
220x200mm
300mm/s
元素分析范围
na-u
特点：
1、束斑尺寸小可达5μm；
2、大样品台行程（320×320×120mm），移动速度可达300mm/s；
3、多达8片的滤波片选择；
应用领域：
1、地矿文博；
2、电子器件；
3、刑侦医学；
4、医药检测；
5、 环境监测。