微聚焦xrf镀层测厚及材料分析光谱仪，可用于电镀、pvd和cvd操作的快速质量控制和验证测试，不论您在检测小配件、大组件或复杂配件，都能让您在几秒内轻松得到正确的结果
牛津 x射线荧光测厚仪 产品详情
我们的镀层测厚仪是基于x射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13al到92u。
优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解x荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
x-strata, eco 和 maxxi 系列产品是专为分析功能性镀层而设计的。
耐腐蚀性：验证所用涂料的厚度和化学性，以确保在恶劣环境中的产品功能和寿命。小的紧固件或大组件都可轻松处理。
耐磨性：防止产品故障，确保在磨料环境中的关键部件的涂层厚度和均匀性。复杂的形状，薄或厚的涂层和成品都可以测量。
精饰电镀：一个的电镀，整个生产过程的质量控制是至关重要的。牛津仪器全系列检测设备，让您放心检验基材，测试中间和顶部镀层。
耐高温：在最的条件下操作的表面处理必须控制在严格的公差范围内。确保镀层符合规格，避免产品召回和潜在的灾难性故障。