优异的高效分析性能微型采样方法(已在日本和美国取得)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于stem分析，其定位精度可达到0.1 m以下。
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微型采样系统
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优异的高效分析性能
微型采样方法(已在日本和美国取得)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于stem分析，其定位精度可达到0.1 µm以下。
特点系统配置实例观察事例
特点聚焦离子束(fib)微采样装置和聚焦离子束(fib)微采样方法
聚焦离子束(fib)微柱状制样实例一个微柱状样品，包含一个直接从半导体器件上准确地切割下来的分析点。改变入射聚焦离子束(fib)的方向，把微样品切割或加工成任意形状。
系统配置实例聚焦离子束-扫描透射电子显微镜系统新开发的半导体装置评估系统由fb2200聚焦离子束(fib)系统和hd-2700 200 kv(stem)扫描透射电子显微镜构成。从对材料缺陷(组织)的搜索到亚纳米薄膜高精度结构分析，只要几小时即可完成。
聚焦离子束-透射电子显微镜(扫描透射电子显微镜)(fib-tem(stem))的样品杆可互换共用
观察事例dram 观察实例针尖顶端的微柱状样品sem像
微柱状样品的明场stem像
关联产品分类
场发射扫描电子显微镜 (fe-sem)透射电子显微镜 (tem/stem)