多片oled器件ivl测量主要应用于oled材料和oled屏体生产厂家，满足客户大批量的oled器件的ivl特性和亮度视角特性测试需求。
oled发光器件的ivl测试，如电流密度、电压、电流效率、流明效率、1931色坐标、亮度、qe、光谱、电流、1976色坐标，并可选配底板加热，进行*定高温下的对应测试。
多片oled器件ivl测量 产品详情
多片oled器件ivl测量
主要应用于oled材料和oled屏体生产厂家，满足客户大批量的oled器件的ivl特性和亮度视角特性测试需求。
oled发光器件的ivl测试，如电流密度、电压、电流效率、流明效率、1931色坐标、亮度、qe、光谱、电流、1976色坐标，并可选配底板加热，进行预定的高温下的对应测试。
多种机型可选，工位灵活配置。
系统特点1.大批量器件的测试系统配有多通道电路选择器，可支持多达24片共96个发光点的oled器件依次点亮测试（具体器件和发光点数量可定制）。测试前可预点亮所有发光点以确认器件是否均正常。
2.发光区域中心自动对位识别工业视觉对位ccd自动识别发光点位置，不管是垂直测ivl还是旋转器件测视角亮度，始终保证测量点对准发光区域中心3.大视角范围测试即使是3*3mm的发光点，在测视角时仍可以满足75度视角以上的测试要求。同时工业视觉对位相机可修正旋转时产生的测量点偏差，保证大视角下测量点依然对准器件发光中心4.温度套件扩展每片治具可选温度控制套件，包括加热套件（温控范围rt-120℃）和加热制冷套件（温控范围：-20-100℃）特殊温度范围可定制5.光谱仪的高速测量为节省低辉度下的光谱仪测量时间，弗士达支持cs-2000a的高速dll模式并对其优化，以实现亮度大量程和快速测量的*美结合，以节省测量时间，提高机台的测试效率