gen3离子污染度测试仪
gen3离子污染度测试仪 产品详情
电子産品,材料(如pcb,元件等)在制程中会被环境,辅料中化学杂质所污染, 这些杂质中会带有电离子成份，这些离子残留在産品将会影响産品的可靠性。在潮湿的环境里，与産品通电运作情況下,离子污染物将会有所变化, 电离子會按电极性在载体中迁移(又名electro-migration)与电极体(元件引脚, pcb上的导线⋯等)本身进行化学作用, 引致电极体腐蚀,又或与其他份子结合从电极体生出金属丝( dendrite )最后让两极相通”短路”,降低了两极间绝缘抗阻( sir ), 最后让産品不能正常运作, 严重的更會破坏电子产品
所以监察离子污染的程度, 或清洁度來肯定产品的可靠性是非常重要的, 业界中离子污染度测试方法为rose/sec, 电路板或零件浸入特定比例的异丙醇( ipa )与无离子水( de-ionised water)的混合测试溶济中, 让污染物溶解, 溶解的污染物会改变溶济的导电性，这改变将会被测量，然后再转换成污染度单位( eq. μg/sq.cm nacl )作记录, 判断
cm系列清洁度测试仪在电子业上有很多用途：测试电路板（ pcb ）在制造流程或成品的清洁度、亦可方便用於pcba生产流程中产品的清洁度, 检查来料清洁度，及可评估不同焊接材料,条件对成品清洁度的影响。
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