高频（微波）介电常数测试仪（te空洞共振腔）
高频（微波）介电常数测试仪（te空洞共振腔） 产品详情
仪器简介：
te空洞共振腔于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5g（第五代移动通信系统），可达40ghz的频率。
有固定的间隙用于插入待测样品，并且在测量稳定性方面优于将样品夹在谐振器中的方法。
可以测量各种材料（例如软样品和脆性样品）的介电常数。
技术参数：
可测试频率范围： 10g-40ghz
介电常数epsilon：1-5， 准确度： ±1%，
介电损耗tangent delta：0.01-0.0001， 准确度：±5%
样品形状：片状（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）
符合标准jis r1641 ipc-tm650 2.5.5.13
拥有多种腔体，每个腔可测一个频点:
主要特点：
te空洞共振腔（cavity resonator ），专门用于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜。
应用领域：
主要应用于5g材料，例如薄膜等。
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括ccl和pcb）
相关资料
·日本aet高频（微波）介电常数分析仪