spectra-qt成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源，用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率，线性度，像素和模块。
spectra-qt 成像传感器量子效率测试光源 产品详情
spectra-qt 成像传感器量子效率测试光源
对于图像传感器行业而言，精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的，一个良好特性的传感器可以和调整输入滤波后的光谱，增强修正终端产品的使用性能。
spectra-qt成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源，用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率，线性度，像素和模块。
测量参数：
量子效率光谱响应率线性度特点：
超高的光照强度和超大的动态范围，能够满足各种传感器的量子效率测试需求输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源，确保传感器测试结果的一致性。光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院（nist）提供软件开发包，能够满足客户各种自定义测试流程开发需要主要规格参数
光谱辐照度 光谱辐亮度
波长范围: 375 - 1100 nm 375 - 1100 nm
光谱带宽: 5 nm to10 nm 5 nm to10 nm
波长准确度: 0.6 nm 0.6 nm
开口孔径尺寸: 29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm n/a
400 nmz大光谱辐照度: 12 mw/cm2 32 mw/cm2-sr
600 nmz大光谱辐照度: 21 mw/cm2 54 mw/cm2-sr
800 nmz大光谱辐照度: 5 mw/cm2 11 mw/cm2-sr
550 nm稳定性: (uv-vis 光源) < 1.5% over 5 sec period < 1.5% over 5 sec period
750 nm稳定性: (vis-nir 光源) < 0.05% over 5 sec period < 0.05% over 5 sec period
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