产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
相位差测量装置 rets-100nx new 产品详情
产品信息
特　点
• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器• 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板• 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
测量项目
• 封入cell gap• twist角• rubbing角• pretilt角［tn,ips,ffs,mva］• 空cell gap• 相位差（复折射相位差）的波长分散• 光学轴• 椭圆率/方位角• 三次元折射率/rth/β• 分光光谱/色度
测量对象
• 液晶cell　-　透过、半透过型液晶cell（tft、tn、stn、ips、va、ocb、強感应电）　-　反射型液晶cell（tft、tn、ips、va）• 光学材料　-　其他（相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料）
仕　样
型号
rets series
样品尺寸
20mm×20mm ～ *
cell gap测量范围
0.1μm ～ 数10μm
cell gap重复性
±0.005μm
检出器
多通道分光光度计
测量波长范围
400nm ～ 800nm
光学系 透过用偏光子unit
偏光光学系 消光比 10-5内置gran-tomson prism（方解石） 自动旋转（角度精度0.1°）、自动装卸机构
测量口径
φ2, φ5, φ10 (mm)
光轴倾斜机构
-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等
*　大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
测量案例
相位差与液晶层间隙值
液晶面内分布图