这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率
四点探针系统 产品详情
这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的pc软件。
该四点探针系统不适用于测量形成天然绝缘氧化物（如硅）的材料的性能。
四点探针系统特点
宽电流范围-四点探针能够提供10毫安到150毫安之间的电流，并且可以测量低至100μv到10 v的电压。该系统可以测量100 mω/□到10 mω/□范围内的片电阻，从而能够描述各种材料的特性。
易于使用-只需插入系统，安装软件，你就可以开始了！直观的界面和简洁的设计使四点探针易于使用，简化了对薄板电阻的测量。可以使用各种形状和尺寸的基底。
高精度-正负极性测量可以使用pc软件进行。这使您能够计算正负电流之间的平均片电阻-消除可能发生的任何电压偏移，从而提高测量精度。
无损检测-设计时考虑到精密样品的测量，四点探针头采用镀金、柔和的弹簧加载触点和圆形。这将产生60克的恒定接触力，防止探针穿透易碎的薄膜，同时仍然提供良好的电接触。
节省空间的设计-通过仔细的设计考虑，我们能够将四点探头的占地面积保持在最小（总工作台面积为14.5 cm x 24 cm），即使在缺乏货架空间的繁忙实验室也可以使用。
快速材料表征-pc软件（包括在系统中）执行所有必要的测量和计算薄板电阻，电阻率和导电性-使材料表征毫不费力。它还自动执行校正系数计算。
measurement specificationsvoltage range ±100 μv to ±10 v
current range ±1 μa to ±150 ma
sheet resistance range 100 mω/□ to 10 mω/□ (ohms per square)
sheet resistance accuracy* precision** measured at range
100 mω/□ ±8% ±3% 1
1 ω/□ ±2% ±0.5% 1
10 ω/□ ±1% ±0.5% 1
100 ω/□ ±1% ±0.05% 2
1 kω/□ ±1% ±0.03% 2
10 kω/□ ±1% ±0.02% 3
100 kω/□ ±2% ±0.05% 4
1 mω/□ ±8% ±0.5% 5
10 mω/□ ±30% ±5% 5
*accuracy is the maximum deviation from the true value.
** precision is the maximum deviation between identical measurements (useful for comparative measurements).
physical specificationsprobe spacing 1.27 mm
rectangular sample size range long edge minimum: 5 mm
short edge maximum: 60 mm
circular sample size range (diameter) 5 mm to 76.2 mm
maximum sample thickness 10 mm
overall dimensions width: 145 mm
height: 150 mm
depth: 240 mm