美能达cs-2000a分光辐射亮度计可通过计算机控制进行测量，并将数据以多种图表或列表形式显示。也可以将测量数据复制粘贴或者导出到其他软件工作表中。cs-s10w提供了大量的数据管理、分析、评估方式，可帮助您更简便、高效地进行研发或者品质控制工作。
美能达cs-2000a分光辐射亮度计 产品详情
美能达cs-2000a分光辐射亮度计产品介绍
测量低亮度的能力达到高水平
作为一款色彩分光辐射亮度计
100,000 : 1的对比度测量现在已成为可能！
当测量峰值达300 cd/m2
随着高清电视时代的全面开始，为了更好地还原明锐亮丽、高分辨率的图像，一些更高质量的支持全高清的显示设备的发展也日益加速。目前先进的技术可达到亮度层次100,000:1的对比度，画面会给您更真实的感受。由于需要有仪器能够测量到更低的亮度，因此在重现一些“比黑色更黑的”图像时，技术上遇到了瓶颈。
另外，一些其他类型的发光元件发展迅速，如有机电致发光（organic el）与传统的lcd和pdp显示一样，都需要更高精度的光谱辐射曲线分析。cs-2000就是一款具有以上测量功能的分光辐射亮度计，它的低亮度测量达到了高水平，低达0.003 cd/m2，高测量对比度可达100,000:1。
测量实例：测量一块研发阶段时的有机电致发光（organic el）平板
在低亮度为0.003 cd/m2时，仪器也能保持高精度测量
柯尼卡美能达将先进的光学设计技术与信号处理技术充分结合，为在低亮度0.003 cd/m2下色度和亮度测量的高精度提供了保障。
低亮度测量：从0.003 cd/m2起
测量精度：±2%（亮度）
在低亮度时也能保证快速测量
仪器的独特设计充分消除了机械及电路噪声，使cs-2000在低亮度时也能进行重复性很好的迅速测量。
1 cd/m2时的测量时间：约5秒（快速模式），柯尼卡美能达以前的型号cs-1000：约123秒
低偏振误差
由于使用反射型衍射光栅引起的偏振误差被减小到只有2%（测量角度：1°）。这使那些使用偏振片的显示设备如lcd的测量数据的稳定性得到了保障。
仅5nm的半波宽
仪器仅5nm的半波宽，满足了对于色度测量的要求（jis z 8724-1997，cie 122-1996），保证了在整个可见光波长范围内色度的精确测量。
可选择的测量角度，可测量非常小的面积
cs-2000可根据您不同的应用对象，选择不同的光学测量角度。
测量角度选择：1°，0.2°，0.1°
小测量面积：ø0.1 mm（使用近摄镜时）
实用的设计
1、仪器的操作温度范围是5℃～35℃，与实际工作环境相近，保证仪器操作时的可靠性。
2、仪器仅仅需要在开机后预热30秒，即可进行正常测量。（测量角度：1°；目标亮度：5 cd/m2以上；23℃时）
即使是有周期性发光特性的光源，也可得到稳定的测量数据
1、内同步测量：通过输入同步频率进行测量
2、外同步测量：通过外接输入垂直同步信号进行测量
3、多重积分模式测量：减少测量非同步时采集信号的变化或测量那些发光特性周期不规则的光源
简洁的操作面板和彩色lcd显示屏使得操作更简便
彩色lcd显示屏和操作面板设置在仪器背面，简洁的按钮排列使您可以更直观地调用想要的功能。
cs-2000特点
可选择合适的测量角度，以满足不同的被测对象。
1°测量角适用于：传统的测量对象如中、大尺寸的显示器。
*lcd，pdp或el平板显示
*手机或数码相机的lcd面板
*各类航空用雷达或仪器设备的显示面板
*户外大屏幕显示设备
0.2°测量角适用于：小面积光源如leds
*车载音响系统
*汽车显示面板
*荧光灯、背光灯管等一些光源
0.1°测量角适用于：极小的发光源或远距离光源
*pdp或lcd的像素点
*冷阴极管
*汽车刹车灯
*交通信号灯
测量小面积时使用的近摄镜（可选配件）
仪器配合可选的近摄镜一起使用，可以测量的小面积为φ0.1mm，不仅可以测量常规尺寸的显示设备，也可以测量一些小面积的光源。
测量距离和测量面积
测量距离（单位：mm）
测量角度
1°
0.2°
0.1°
当使用近摄镜时
55.0
φ1.00
φ0.20
φ0.10
70.9
φ1.39
φ0.28
φ0.14
350
φ5.00
φ1.00
φ0.50
500
φ7.78
φ1.56
φ0.78
1,000
φ16.66
φ3.33
φ1.67
2,000
φ34.18
φ6.84
φ3.42
*测量距离是从物镜或近摄镜金属部分末端算起。
重复性对比实验
1、在目标亮度为0.1 cd/m2时，与柯尼卡美能达以前的型号cs-1000做比较
2、y轴代表了：假设cs-2000测量的平均值为1时，cs-1000测量值的对数
亮度(lv)
色度(x)
色度(y)
仪器通过在设计上充分消除了机械及电路噪声，达到了更好的重复性。
被测亮度与测量时间（单位：秒）
亮度(cd/m2)
一般模式
快速模式
0.003
243
35
0.01
243
35
0.1
155
27
1
19
5
10
4
4
300
3.7
3.7
测量对象：标准光源a
*所有的时间仅代表接近值。
测量实例
pdp
lcd
organic el
技术解析
cs-2000的核心，光学传感器，通过精确的分析设计，消除了其成分中的热量对测量数据的叠加影响。
传感模组的
热分析图
美能达cs-2000a分光辐射亮度计规格
型号
cs-2000a
波长范围
380 ～ 780 nm
波长分辨率
0.9 nm/pixel
显示波长宽度
1.0 nm
波长精度
±0.3 nm（校准波长：435.8 nm，546.1 nm，643.8 nm，hg-cd灯）
光谱波宽
5 nm以下（半波宽）
测量角度 （可选）
1°
0.2°
0.1°
测量亮度范围（标准光源a）
0.0005~5,000cd/m2
0.0125~125,000cd/m2
0.05~500,000cd/m2
最小测量区域
φ5 mm（当使用近摄镜头时为φ1 mm）
φ1 mm（当使用近摄镜头时为φ0.2 mm）
φ0.5 mm（当使用近摄镜头时为φ0.1 mm）
最小测量距离
350 mm（当使用近摄镜头时为55 mm）
最小光谱辐射显示
1.0×10-9w/sr, m2, nm
精度：亮度（标准光源a）*1
±2%
精度：色度（标准光源a）*1
x : ±0.0015 (0.05 cd/m2以上)
y : ±0.001 (0.05 cd/m2以上)
x,y : ±0.002 (0.001 ~ 0.05 cd/m2)
x : ±0.0015 (1.25 cd/m2以上)
y : ±0.001 (1.25 cd/m2以上)
x,y : ±0.002 (0.025 ~ 1.25 cd/m2)
x : ±0.0015 (5 cd/m2以上)
y : ±0.001 (5 cd/m2以上)
x,y : ±0.002 (0.1 ~ 5 cd/m2)
重复性：亮度（2σ）（标准光源a）*2
0.15% (0.05 cd/m2以上)
0.25% (0.003 ~ 0.05 cd/m2)
0.7% (0.001 ~ 0.003 cd/m2)
1.5% (0.0005 ~ 0.001 cd/m2)
0.15% (1.25 cd/m2以上)
0.25% (0.075 ~ 1.25 cd/m2)
0.7% (0.025 ~ 0.075 cd/m2)
1.5% (0.0125 ~ 0.025 cd/m2)
0.15% (5 cd/m2以上)
0.25% (0.3 ~ 5 cd/m2)
0.7% (0.1 ~ 0.3 cd/m2)
1.5% (0.05 ~ 0.1 cd/m2)
重复性：色度（2σ）（标准光源a）*2
x,y: 0.0004 (0.2 cd/m2以上)
x,y: 0.0006 (0.1 ~ 0.2 cd/m2)
x: 0.001 y:0.0015 (0.003 ~ 0.1 cd/m2)
x: 0.003 y:0.0035 (0.001 ~ 0.003 cd/m2)
x,y: 0.0004 (5 cd/m2以上)
x,y: 0.0006 (2.5 ~ 5 cd/m2)
x: 0.001 y: 0.0015 (0.075 ~ 2.5 cd/m2)
x: 0.003 y: 0.0035 (0.025 ~ 0.075 cd/m2)
x,y : 0.0004 (20 cd/m2以上)
x,y : 0.0006 (10 ~ 20 cd/m2)
x: 0.001 y: 0.0015 (0.3 ~ 10 cd/m2)
x: 0.003 y: 0.0035 (0.1 ~ 0.3 cd/m2)
偏振误差
1°：2%以下（400 ～ 780 nm）；0.1°和0.2°：3%以下（400 ～ 780 nm）
积分时间
快速：0.005～16 秒；普通：0.005～120 秒
测量时间
最小1秒（手动模式）至最大243秒（普通模式）
色空间模式
lvx y，lvu' v'，lvtδuv，xyz，光谱曲线，特征波长，激发纯度，暗视觉亮度（使用cs-s10w专业软件）
接口
usb 1.1
操作温度/
湿度范围
5～35℃，相对湿度80%以下，无凝露
存储温度
/湿度范围
0～30℃，相对湿度80%以下，无凝露
电源
电源适配器（100-240～，50/60 hz）
功率
约20 w
尺寸
158（宽） × 200（高） × 300（长） mm （主机），φ70 × 95mm（镜头）
重量
6.2kg
数据处理软件
cs-s10w 专业版（标准配件）
使用该软件，cs-2000a可通过计算机控制进行测量，并将数据以多种图表或列表形式显示。也可以将测量数据复制粘贴或者导出到其他软件工作表中。cs-s10w提供了大量的数据管理、分析、评估方式，可帮助您更简便、高效地进行研发或者品质控制工作。