日本sentec三维立体几何测量系统odc2500 odc2600 odc1200,遮光の原理によってターゲットの形状測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル・インターフェースによって出力されます
日本sentec三维立体几何测量系统odc2500 odc2600 产品详情
日本sentec三维立体几何测量系统odc2500 odc2600的详细介绍
日本sentec三维立体几何测量系统odc2500 odc2600
ジオメトリック寸法測定システム
odc2500
遮光の原理によってターゲットの形状測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル・インターフェースによって出力されます。
optocontrolは自動生産ラインや機械、延伸工程、押し出しライン、生産現場や品質保証、移動するコンベア上で非接触かつ高速で製品の形状を測定できます。
odc2600
optocontrolは寸法測定のため高精度ccdを内蔵した測定装置です。高速応答性、**した精度とすばらしい分解能は、生産ラインにおいて移動する製品の検査において新しい水準と価値を明確にします。optocontrol測定システムはターゲットの寸法を遮光によるエッジの位置で測ることが出来ます。様々なプログラムを選択可能で、デジタルインターフェースとアナログ出力を使用することが出来ます。
odc1200
高速でワークの直径、エッジ、すき間等を測定可能
測定範囲　2mm～30mm
応答性100khz