日本j-ras离子迁移试验装置caf测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ bias voltage ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ion migration ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 caf试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 open/short 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
日本j-ras离子迁移试验装置caf测试 产品详情
日本j-ras离子迁移测试装置
追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成
ecm-100是可以单独试验的all-in-one检测系统，并且重要的试验数据被保存到cf存储卡。
作为系统构成我们准备了40ch/100ch型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。
高机能
*用pc设定试验条件之后，就可以不使用pc来继续进行试验。
*使用ecm-100主机就可对hast/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ecm-100进行变更/监视。
*hast/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的
*没有通信机能的hast/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度
产品优势
简单/便利
△采用高性能驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。
高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。
△配有cf卡，以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300v的电压范围。
用途
△pcb板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。
实例
△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
计测channel数 10ch
计测电阻值范围 2kω~10tω
dcbias印加 电压范围 2范围 （1.0～30.0v，30.1～300.0v）
电压范围设定 1组（5ch）
电压级别设定 channel个别
设定分解能 0.1v
设定精度 ±｛0.3%（f.s.）+0.5｝v
最大输出电流 700μa/ch
dcbias计测 计测范围 2范围 （0～33v，0～330v）
计测精度 ±｛0.3%（f.s.）+0.5｝v
计测分解能 0.1v～（整数+小数点以下1行表示）
ad转换器 24bits⊿∑ad转换器/ch
计测速度 16msec/10ch
电流计测 计测方式 channel个别high-side电流计测方式
计测范围 5范围（～500μa，～50μa，～2.5μa，～125na，～6.25na）
计测范围设定 channel个别或者自动范围
计测精度 ±0.3%（f.s.）
计测分解能 1pa～（有效数字4行表示）
ad转换器 24bits⊿∑ad转换器/ch
计测速度 16msec/100ch
制御channel数 5～100ch（5channel单位）
数据收录 试验制御单位 1组（5ch）
试验设定小时 1分～9999小时
收录间隔（定期） 1分～60分
收录间隔（ecm发生时） 16msec
收录媒体 compact flashcard
其他 主pc通信机能 lan接触口×1
环境试验机通信机能 rs-232c接触口×2
外部输入1 接点输入×4（联动装置，紧急停止制御可）
外部输入2 电压输入（1-5v）×2，电流输入（4-20ma）×2（温度·温度记录可）
自动校正 bias输出补正，异常leak电流检测