雷云光电推出va-70nir锥光成像分析仪，锥光镜头可在±70° 视角条件下同时获取多种视角测量数据。灵活搭配proicm专业软件，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果 。可有效应用在人脸识别传感器、3d传感器、tof结构光激光器、vcsel、近红外发射器等等。
va-70nir 锥光成像分析仪 产品详情
va-70nir 锥光成像分析仪 特性●va-70nir锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果 。
●proicm测试软件提供直观的系统设置和数据分析，包括2d图形、等距图、雷达图等图形分析功能。
●通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。
●通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。
va-70nir 锥光成像分析仪 应用●人脸识别传感器
●3d传感器
●tof结构光激光器
●vcsel
●近红外发射器
va-70nir 锥光成像分析仪 规格型号
va-70nir
探测器
23*23mm
总像素
2621万
像素分辨率
5120*5120
测量功能
辐射强度、辐射通量、角度分布
曝光时间
80us~10sec
波长范围
500-1100nm之间各种单波长
滤光片
单个波长滤光片或多个波长滤光片
角度分辨率
0.039°
测量直径
4mm
测量距离
3mm
视角范围
±70°
尺寸
180*180*453mm(含镜头长度)
接口
lan、trigger
工作温度
10~40°c
供电电压
ac电源适配器
* 规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。