简要描述：美国asi j200 la飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用，组成la-icp-ms系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。
飞秒激光剥蚀进样系统 产品详情
品牌其他品牌 应用领域化工,石油,地矿,能源,航天
一、简介
美国asi j200 la飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用，组成la-icp-ms系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。
二、j200 la飞秒激光剥蚀进样系统技术优势
q开关，短脉冲nd:yag激光器，拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器，可根据您的实际应用需求进行选购；创新的模块化系统为独立的la，libs，或la–libs复合系统的配置设计；系统传感器，确保激光剥蚀一致性：高度自动调整技术激光能量稳定快门双摄像机，一个于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察；应用光谱flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；系统软件：硬件部件的全面控制与测量自动化多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像用于la-icp-ms和libs分析的强大数据分析模块维护成本低；升级为la-libs复合系统简单：用于判别和分类分析的libs化学计量软件满足不同分析要求的三种libs检测器选项，libs可配置双检测器可升级为飞秒激光剥蚀。
三、硬件特点
针对双重la/libs性能而设计的紧凑、模块化系统
主体包括激光源、激光束传输光学器件、样品室、气体流量控制系统。
自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性
考虑到样品表面的形态变化，采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦，在所有采样点上提供相同的激光能量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。
具有可互换镶嵌模块的flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能
根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的libs检测。
创新集气管设计
采用*的集气管设计，大限度地减少了脱气，防止了任何烧蚀颗粒的堆积，并消除记忆效应。容易组装，便于定期清洁输气管道。
高精度气体流量控制系统
气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器（mfc）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送，并精确控制气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。
气体流量控制系统
通过双摄像头和*照明实现样品可视化
拥有*照明系统和高倍光学变焦(高达60x)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率cmos成像摄像机，提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存，并用于定位不同的样品位置，使用高倍镜研究样品。
具有三种独立的照明模式，提高图像质量和对比度：扩散式led光源，透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。
清晰、高倍放大的样品表面图像
同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比
三种libs检测器可选，扩展了仪器功能
三种不同libs检测器可选：(1)带有iccd摄像机的扫描czerny turner光谱仪；(2) 配备iccd摄像机的中阶梯光栅光谱仪；(3)同步六通道ccd光谱仪。做为独立的libs仪器系统，可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的libs检测功能。