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轮廓测量仪 SV-C3100 三丰

2022-3-17 23:14:02发布47次查看
产品简介:三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 sv-c3100大幅提高的驱动速度(x 轴: 80 mm/s, z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨
轮廓测量仪 sv-c3100 三丰 产品详情
苏州勒丰精密仪器有限公司(德日维修部)专业从事日本三丰,德国马尔等品牌,以“质量*”为宗旨,向范围的广大市场提供千分尺,卡尺等量具;三坐标测量机,形状测量系统,视像测量系统,光学仪器等系统精密测量仪以及专业维修服务中心。公司技术力量雄厚,多名工程师都是来自世界*的量具生产企业,配件采用日本*,计量试验室仪器都是进口测量仪器,为客户解决维修后精度不良的后顾之忧,品质服务由计量质量检测部门支持并出具相关维修产品的检测报告,并与日本三丰“mitutoyo”总代理建立有*稳定的合作关系。是大陆地区zui专业的量具量仪销售及维修服务商之一。
详细介绍
formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)sv-c3100/sv-c4100
简单介绍
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 sv-c3100大幅提高的驱动速度(x 轴: 80 mm/s, z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。
为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨;驱动器 (x 轴) 和立柱 (z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中z2 轴上为abs 型)。因此,在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。
特长:
本机为电动型支柱,触针式轮廓形状、表面粗度量测两用的复合机。
轮廓形状量测用z轴检出器搭载holographic光学尺(sv-c4100)、反射型光学尺(sv-c3100)。
表面粗度量测用z轴检出装置,可对应iso/新jis。
检出器的滑动部为2段式,可提升检出器交换时的操作性。
资料处理软体,可做高难度的轮廓形状、粗度的评价解析。
资料处理装置的通讯系统使用rs-232c。
表面粗糙度测量
直线度:±(0.05+0.001l)μm*于需要高精度测量的工件。
*s4型、h4型、w4型;l为驱动长度(mm)
符合jis’82/’94/’01,iso,ansi,din,vda等表面粗糙度的标准。
标准配置:高精度测头(0.75mn/4mn测力),分辨率高至0.0001μm。
自动测量
在与cnc机型配套使用的众多外设选件的支持下,可实现自动测量。
轮廓驱动测量
x轴精度:±(0.8+0.01l)μm*z1轴精度:±(0.8+i0.5hi/25)μm*于需要高精度测量的工件。
*sv-c4100s4型、h4型、w4型;l为驱动长度,h为测量高度(mm)
sv-c4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头,z1轴宽/窄范围均能达到极高的精度和分辨率。
基本技术参数:
基座尺寸(h):750x600mm或1000x450mm
基座材料:花岗岩
重量
主机:140kg(s4),150kg(h4),220kg(w4)
140kg(s8),150kg(h8),220kg(w8)
控制器:14kg
遥控箱:0.9kg
电源:100–240vac±10%,50/60hz
能耗:400w(主机)
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