2000v离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ bias voltage ）, , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ion migration ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 caf试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 open/short 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
2000v离子迁移实验装置 产品详情
高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験装置　hvuαシリーズ
製品の特⻑100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
ch個別電源搭載&ch個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
ch個別電源搭載&ch個別制御で全chに異なる印加電圧設定が可能
機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
短絡検出回路のch個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
用途⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。
メイン画面
テキストデータ画面
グラフ画面
ログ表示
対応os：windowsxp、7、8、10