产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(re.) （相当于快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...
高速延迟测量装置 re-200 产品详情
产品信息
特 点
• 可测从0nm开始的低（残留）相位差• 光轴检出同时可高速测量相位差(re.)（相当于快速的0.1秒以下来处理）• 无驱动部，重复再现性高• 设置的测量项目少，测量简单• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长• rth测量、角测量（需要option的自动旋转倾斜治具• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性(本系统属特注。）
测量项目
• 相位差（ρ[deg.], re[nm]）• 主轴方位角（θ[deg.]）• 椭圆率（ε）・方位角（γ）• 三次元折射率（nxnynz）
用　途
• 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
原　理
• 什么是re-200• re-200是光子结晶素子（偏光素子）、ccd相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。ccd相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。
仕　样
型号
re series
样品尺寸
最小10×10mm ～100×100mm
测量波长
550nm （标准仕样）※1
相位差测量范围
约0nm ～约1μm
轴检出重复精度
0.05°（at 3σ） ※2
检出器
偏光计测模块
测量光斑直径
2.2mm×2.2mm
光源
100w 卤素灯或 led光源
本体・重量
300(w) × 560(h) ×430（d) mm 、约20kg
option• rth测量、角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）• 动旋转倾斜治具