采用世界上的sdd硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的si-pin探测器，分辨率为160±5ev， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征x荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率可达8万，比si-pin 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
（天瑞）新型x荧光贵金属检测仪器 产品详情
技术参数
元素分析范围从硫（s）到铀（u）分析检出限可达ppm级分析含量一般为ppm到99.99％任意多个可选择的分析和识别模型相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序多次测量重复性可达0.02％（含量96％以上）*工作稳定性为0.05％（含量96％以上）温度适应范围为15℃至30℃电源：交流220v±5v,建议配置交流净化稳压电源能量分辨率：139±5ev
仪器配置
移动样品平台信噪比增强器sdd探测器数字多道分析系统高低压电源大功率x光管计算机及喷墨打印机外观尺寸：550×416×333mm样品腔尺寸：460×298×98mm质量：45kg