简单介绍： 离子污染测试仪适用于测试电子元器件/电路板/电路板组
离子污染测试仪 产品详情
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离子污染测试仪适用于检测电子元器件/电路板/电路板组
介绍新的和改进的，6西格玛认证的cm+系列-业界优越的，获奖的和世界上**个联合玫瑰和pict离子污染测试仪。
虽然通常被称为“清洁度测试”，但污染计实际上是一种用来测量离子污染的工具。40多年来，这种测试方法一直被认为是制造电子电路板、元件和组件的重要质量保证和过程控制工具。
从历*看,标准ipc-j-std001表示,议会被清洗的值< 1.5µg / cm2等价。然而，新设计与gen3系统引入的新过程控制度量相关:过程离子污染测试(pict)。cm+系列根据所有现有的测试方法(通常称为rose测试)和新的pict测试来测量离子污染的量。
来自gen3系统的cm+系列有5种不同的型号和5种不同的油箱尺寸——在选择测试系统时，为被测电路使用尽可能小的油箱尺寸是很重要的。
所有的量程都使用了纯金测试单元、弹道放大器和强有力的泵送系统，以确保即使在非常低的电导率值下也能获得非常高的测量精度。基于pc的软件用于生成图形化的测试数据，通过/失败分析，以及根据现行标准使用测试方法自动打印出硬拷贝。
在与罗伯特·博世的合作研究中，cm+范围已被证明符合6西格玛标准，在不同的生产地点使用验证程序。作为一个过程工具，cm+系统可以用于优化制造技术和材料，并在不同的生产现场进行制造控制，具有很高的确定性。
新的cm+范围包括以下内容:
cm11+、cm22+、cm33+、cm33l+、cm60+、cmbbt+。
关键特性
六西格玛(6σ)验证作为过程控制工具
3分钟内完成测试周期
高的流体循环速率，确保快速**pcba中的离子污染物，同时始终提供平稳、无气泡的循环
独特的曲线拟合分析算法(拟合的优点)预测较长试验的结果
独特的纯金测量单元，弹道放大器，测试精度<0.005ms/cm
**测量，即使测试溶液占被测表面面积的比例很大
二氧化碳补偿功能，消除大气污染对污染结果的任何影响
自动温度补偿
通常在6分钟内完全恢复
全新系列pcb/元件处理架，集成排水系统
措施符合所有和mil规格的新ox-sizing:border-box;margin-top:0px;margin-bottom:0px;padding:0px;min-height:26px;line-height:26px;color:#333333;font-family:arial, microsoft yahei, 5fae软雅黑, 5b8b体, malgun gothic, meiryo, sans-serif;font-size:14px;font-variant-numeric:normal;font-variant-east-asian:normal;text-align:justify;white-space:normal;background-color:#f7f8fa;>所有cm+系统的测量重复性和可靠性都达到了2%
cm+系列系统具有极高的精度、灵敏度、线性度、精密度和重复性