wkl-702颗粒图像分析仪（配置1 国产显微镜）
wkl-702颗粒图像分析仪（配置1 国产显微镜） 产品详情
介绍
wkl-702颗粒图像分析仪（配置1 国产显微镜）
wkl-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和力度测量的颗粒分析系统，由光学显微镜，数字ccd摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过的珠子摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑，通过的颗粒图像分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌，也可得到颗粒分布等分析结果。
配置参数（配置1国产显微镜）
三目生物显微镜：平场目镜：10x、16x
消色差物镜：4x、10x、40x、100x（油）
总放大倍数：40x—1600x
摄像机：300万像素数字ccd（标准c接口镜头）应用范围
适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量。形貌观察和分析。
软件功能及报告输出格式
1.可以对图像进行多项处理：如：影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能
2.具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量
3.可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图
主要技术参数
wkl-702（配置1 国产显微镜）
测量范围
1~3000微米
大光学放大倍数
1600倍
大分辨率
0.1微米/像素
准确性误差
<±3%（国家物质标准）
重复性偏差
<±3%（国家物质标准）
数据输出
周长分布、面积分布、长泾分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、feret径分布、长短径比、中间（d50）、有效粒径（d10）、限定粒径（d60、d30、d97）、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不平均系数、曲率系数。