本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和*的四阶低q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
光学膜厚控制仪gm-x03光学膜厚控制仪gm-x03 产品详情
本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和*的四阶低q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
侧板：
gm-x03
gm-x03侧板
产品特点：
1.采用进品高精密元件制作和daas是数字频谱分析系统测试，确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
2.高稳定性。
3.操作简便，实用性强
基本参数
计量单位：台
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测量范围：5ma-500ma
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类型：薄膜测厚仪
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显示方式：指针,数显
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品牌：lxvtc
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型号：gm-x03
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加工定制：是
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测定对象：镀膜膜厚