xgt-5000
微区扫描x射线荧光光谱仪 产品详情
技术参数：
?10 µm 的 x 射线高强度、高速度的扫描分析。
样品可以置于大气中分析，的真空探针方式。
?同轴观察，可以从摄像系统中选取所需的测量点，单键控制，放大倍数不超过 100 倍。
?可以对物质表面和内部构造同时进行分析。
?主要应用：weee/rohs 中涉及的产品有害元素的测定、珠宝首饰的成份检测、电子电路板的微区分析、考古或博物馆中对古物的分析
? 同时也满足科研院校在常规元素检测方面的要求
可进行样品内部从na~ u的元素进行定性、定量分析
2、x射线透射成像，可观察样品内部细微构造
3、多点自动分析，一次可测99点
4、能做不低于10μm的微区
5、两种x射线聚焦导管快速切换，可选1.2mm和10μm或100μm
6、x射线与可见光同轴设计，做到精确定位测试部位。
7、高纯硅检测器，保证高稳定性及性能