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膜厚仪ba-100 optics 产品详情
bowman ba-100 optics 台式x射线荧光（xrf）镀层测厚仪
供应美国博曼bowman x射线测厚仪 镀层测厚仪 膜厚测量仪
深圳市奔蓝科技有限公司总代理美国博曼bowman x射线镀层测厚仪及辅助配件！相比费希尔、牛津仪器和精工测厚仪更有的表现！价格更实惠，软件人性化设计，极力推荐产品！并供应美国calmetrics镀层标准片，都附有可以追溯到美国nist认证的证书。
集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务！
博曼bowman镀层测厚仪，专业用于pcb电路板行业和要求的表面处理行业使用。
机器可以测量更小的面积，更多层的镀层，更薄的镀层厚度，测量数据非常稳定。
品牌：博曼bowman 型号：ba-100 optics 博曼bowman中国区总代理
美国博曼（bowman）bowman ba-100 optics 台式x射线荧光（xrf）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
bowman ba-100 optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高x射线激发强度。
bowman ba-100 optics 机型配备大面积的sdd（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力，bowman ba-100 optics机型是研究开发、质量管控的xrf镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的x射线管
微聚焦50瓦mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点长寿命的射线管灯丝的预热和iso温度适应程序多毛细管聚焦光学结构
显著提高x射线信号强度获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度小于100um直径的测量斑点经过验证，接近的测量精度性能与可操作性的化
紧凑式设计，改善效率和精度高分辨半导体固态探测器（si-pin），提高稳定性和灵敏度更短的预热时间，更长寿命的光管多种规格一次滤波器和准直器可变焦距适应复杂样品的测量需求模块化设计，方便维修、维护简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析成份分析最多可达25种元素同时可最多分析5层基于基本参数法的镀层和成份分析方法仅需一根usb线与电脑连接快捷的面板控制按钮占用空间小、轻量化设计直观的用户界面
的分析灵活性，减少用户出错机会基于net framework框架的xralizer软件直观的图标引导用户界面强大的定性、无标样分析功能功能强大的标准片库用于快速分析的可定制快捷键灵活的数据显示与导出强大的报告编辑生成器常见的镀层应用：
线路板 ：au/eni/cupcb（enig）；ag或sn/cupcb；au/pd/ni/pcb
引线框架和连接器 ：au/pd/ni/cu alloys；au/ni/ni/fe; ag/cu; au/pd/ni/cufe
半导体行业：pd/ni/cu/ti/si-晶元基材；au/pd/ni/cu/si晶元基材
线材：sn/cu
通讯和数据储存设备 ：nip/al ；ag/cu；ag/ni/cu
珠宝、贵金属 : 10,14,18kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等
十多年来，深圳奔蓝科技一直服务于pcb 厂商、五金电镀、连接器、lcd、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和的服务都得到客户的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。
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