微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
镀层测厚仪ft110 产品详情
1.即放即测！ 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量！ 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！
ft110a x射线荧光镀层厚度测量仪 特长
通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
多达5层的多镀层测量使用薄膜fp法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
广域观察系统（选配）可从大250×200mm的样品整体图像测量位置。
对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。
ft110a x射线荧光镀层厚度测量仪 规格
型号ft110a
测量元素 原子序号ti（22）～bi（83）
x射线源 空冷式小型x射线管 管电压：50（可变更）kv 管电流：10～1000µa
检测器 比例计数管
准直器 ○型： 0.1 mmφ、0.2 mmφ　他2種
样品观察 ccd摄像头
对焦 激光对焦（自动）
滤波器 一次滤波器（自动切换）
样品区域 [固定]535×530 mm[电动] 260×210 mm (移动量x:250 mm, y:200 mm)
测量软件 薄膜fp法（大2层、10种元素）、检量线法
安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能
选购项
图像处理软件
块体fp软件（材料组成分析）
块体检量线软件（电镀液分析）